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布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500 先進的臺式三維形貌計量設(shè)備 與放大倍率無關(guān)的業(yè)界好Z軸分辨率 高級自動化功能，包含帶編碼器的XY軸樣品臺、自動測頭傾斜和自動亮度調(diào)整 更緊湊的氣動減震臺設(shè)計

布魯克HysitronTS77 Select納米壓痕儀 Hysitron TS 77 精選是自動化臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)，可提供同類儀器的高性能、多功能和易用性,在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。 TS 77 精選 支持主流的測試模式，是定量納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價比解決方案。

DEKTAK XT布魯克臺階儀/表面輪廓儀臺階儀主要用于材料表面的2D，3D測量，可以測試臺階高度，表面粗糙度；同時也適合材料表面溝槽深度的測試；能夠在微電子，半導(dǎo)體及化合物半導(dǎo)體，太陽能、超高亮度發(fā)光二極管（LED）、OLED、ITO、微流控、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實現(xiàn)納米級表面形貌測量。Dektak臺階儀測量薄膜材料可以達到埃級重現(xiàn)性和1nm-1mm的測量范圍。